Peralatan ini merangkumi perumah, ruang ujian, slaid, x-ray
spektrometer pendarfluor, motor dan kaedah untuk mengukur
sifat bendalir sampel, termasuk menyuntik bendalir, menggerakkan slaid,
dan menggerakkan spektrometer.
Kategori IP :
Paten
Pendaftaran IP:
MY191891.A
Tahap Kesediaan Teknologi:
Verify Your Email
We have sent a 6-digit verification code to your email. Please enter it below to continue.